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離子組成、pH值對納米SiO2/SDS體系降低油水界面張力的影響(二)

來源:油田化學 瀏覽 30 次 發(fā)布時間:2025-08-28

2結果與討論


2.1納米SiO2/SDS分散體系的穩(wěn)定性


2.1.1 SiO2的含量、離子組成對SiO2/SDS體系穩(wěn)定性的影響


利用沉降法和濁度法分析分別用NaCl鹽水、模擬地層水配制的不同納米SiO2含量的納米SiO2/SDS體系的穩(wěn)定性,濁度法測試結果如圖1所示。用NaCl鹽水配制的SiO2/SDS體系在靜置15 d時,僅納米SiO2質量分數(shù)為1.5%的體系出現(xiàn)了輕微的渾濁,而其它體系均保持澄清透明;當納米SiO2質量分數(shù)為1.5%時,SiO2/SDS體系的濁度隨靜置時間的延長稍有增大,其它體系的濁度幾乎不隨靜置時間的延長而變化,且均小于15 NTU。由此可見,用NaCl鹽水配制的納米SiO2/SDS體系的穩(wěn)定性良好。

圖1納米SiO2/SDS體系的濁度隨時間的變化(SDS質量分數(shù)為0.3%)


用模擬地層水配制的納米SiO2/SDS體系經歷了澄清透明-渾濁-沉降的3個階段,靜置初始,納米SiO2質量分數(shù)為0.5%的體系的濁度不隨時間的延長而變化,表明此時體系穩(wěn)定;靜置1 h后,濁度明顯增加;靜置6 h后,體系的濁度又恢復到了初始值,由于實驗測試的是樣品上半部分的濁度,說明此時體系已經完全沉降。


分別利用沉降法和濁度法得到了用模擬地層水配制的納米SiO2/SDS體系出現(xiàn)渾濁和沉淀的時間,結果見表1。兩種實驗方法得到的結果基本一致,因此接下來直接用沉降法來分析pH值對納米SiO2/SDS體系穩(wěn)定性的影響。從表1可以看出,納米SiO2的質量分數(shù)越大,體系的穩(wěn)定性越差。同時,對比NaCl鹽水和模擬地層水中納米SiO2/SDS體系的穩(wěn)定性發(fā)現(xiàn),當SiO2含量相同時,模擬地層水體系的穩(wěn)定性遠低于NaCl鹽水體系的。

表1模擬地層水中納米SiO2/SDS體系出現(xiàn)渾濁、沉淀的時間(SDS質量分數(shù)為0.3%)


DLVO理論認為影響膠體穩(wěn)定性的主要因素是膠體顆粒之間的范德華吸引力和靜電排斥力,而Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量。當Zeta電位的絕對值(|ζ|)大于30 mV時,膠體分散體系有較好的穩(wěn)定性,而當Zeta電位在-30和+30 mV之間時,體系是不穩(wěn)定的。


圖2給出了分別用模擬地層水和NaCl鹽水配制的不同納米SiO2含量的納米SiO2/SDS體系的Zeta電位。當納米SiO2的質量分數(shù)分別為0.2%、0.5%和1.0%時,用NaCl鹽水配制的納米SiO2/SDS體系的|ζ|均大于30 mV,因而表現(xiàn)出較好的穩(wěn)定性;而當納米SiO2質量分數(shù)為1.5%時,體系的|ζ|略低于30 mV,因此納米SiO2/SDS體系在靜置15 d后才出現(xiàn)輕微的混濁。用模擬地層水配制的納米SiO2/SDS體系的|ζ|均明顯小于30 mV,說明體系的穩(wěn)定性差,靜置幾小時即出現(xiàn)了渾濁和沉淀。納米SiO2帶負電,金屬陽離子Ca2+,Mg2+和Na+等的存在會壓縮納米SiO2的雙電層,由于Ca2+,Mg2+離子的價數(shù)高,壓縮雙電層的能力強,導致體系的|ζ|降低,穩(wěn)定性變差,由此可見,要使納米SiO2/SDS分散體系具有良好的穩(wěn)定性,應減少體系中二價Ca2+、Mg2+的含量。


從圖2還可以看出,隨著納米SiO2含量的增加,用兩種鹽水配制體系的|ζ|均不斷降低,且納米SiO2的含量越大,顆粒之間的距離越小,由于布朗運動相互碰撞聚結在一起的機率就越大,因此體系的穩(wěn)定性越差。

圖2納米SiO2/SDS體系的Zeta電位


2.1.2 pH值對納米SiO2/SDS分散體系穩(wěn)定性的影響


為了解決模擬地層水中納米SiO2/SDS體系的穩(wěn)定性問題,研究了pH值對體系穩(wěn)定性的影響。未調節(jié)pH值前,模擬地層水體系的pH值均在8.5左右,此時體系穩(wěn)定性較差,所以考慮通過添加少量鹽酸降低pH值來提高體系的穩(wěn)定性。本文分別研究了納米SiO2質量分數(shù)分別為0.2%、0.5%、1.0%和1.5%時,在不同pH值下的SiO2/SDS體系的穩(wěn)定性。當納米SiO2/SDS體系的pH值3.5時,體系靜置15 d仍呈現(xiàn)出澄清或輕微渾濁的狀態(tài),具有較好的穩(wěn)定性;且總體上來說,pH值越低,體系的穩(wěn)定性越強。


以納米SiO2質量分數(shù)為0.5%時的體系為研究對象,分析了不同pH值時體系的Zeta電位,結果見圖3。隨著pH值的降低,納米SiO2/SDS體系的|ζ|減小且明顯小于30 mV,但是穩(wěn)定性卻得到了明顯改善。該實驗現(xiàn)象與傳統(tǒng)的DLVO理論產生了明顯的矛盾,這是因為DLVO理論沒有考慮到短程排斥力的存在。水溶液中顆粒表面形成具有一定彈性的水化膜,當兩個顆粒靠近時,顆粒表面的水化膜在靠近重疊時產生一種短程的非DLVO作用力使兩個顆粒被彈開,該作用力稱為水化作用力。

圖3在不同pH值下納米SiO2/SDS體系的Zeta電位



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